本章將專門介紹這些基本可靠性試驗(yàn)。
基礎(chǔ)試驗(yàn)的重要性
電子元器件的常用可靠性試驗(yàn)。那些試驗(yàn)是為完成特定的目的而設(shè)置 的，它由一系列通用的基本試驗(yàn)單元——可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)組成的，如第2章所述的例行試 驗(yàn)是由振動疲勞試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、離心力試驗(yàn)、卨低溫溫度試驗(yàn)、多余物檢查試驗(yàn)等組成 的。我們把組成各種可靠性試驗(yàn)的最基本的試驗(yàn)叫做可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)，如高溫試驗(yàn)，振動 掃頻試驗(yàn)等，它們是獨(dú)立的試驗(yàn)，它們的不同組合可構(gòu)成不同的可靠性試驗(yàn)，可組成第2 聿所述的電子元器件不同的常用可靠性試驗(yàn)。因此，可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)的結(jié)果直接影響電 子元器件的可靠性試驗(yàn)的結(jié)果。所以，這些通用的可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)是做好第2聿的電子 元器件常用的可靠性試驗(yàn)的重要保證。
另一方面，電子元器件研制過程中，往往必須經(jīng)常獨(dú)立做某些通用的可靠性基礎(chǔ)試 驗(yàn)。如密封元器件必須做檢漏試驗(yàn)、粒子噪聲多余物檢測試驗(yàn)等;車載產(chǎn)品必須做振動疲 勞試驗(yàn)、隨機(jī)振動試驗(yàn)、掃頻試驗(yàn)等;當(dāng)然電子元器件的性能測試必須在一定環(huán)境下進(jìn)行 一定的電學(xué)量的測量試驗(yàn)。所以這些通用的可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)是電子元器件基本性能的主 要檢測手段。因此必須熟練地掌握這些通用的可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)。